| 项目名称 | 类别 | 校准规范名称 | 测量范围 | 扩展不确定度 |
|---|---|---|---|---|
| *投影仪 | 长度 | 投影仪校准规范 JJF1093 | （0～800）mm | U=1.4μm+6×10-6L |
| 试验筛 | 长度 | 试验筛校准规范 JJF1175 | （0.04～4）mm | U=2μm |
| 试验筛 | 长度 | 试验筛校准规范 JJF1175 | （0.04～4）mm | U=2μm |
| *读数、测量显微镜 | 长度 | 读数、测量显微镜检定规程 JJG571 | 读数显微镜：（0～8）mm | U=1.4μm |
| 塞尺 | 长度 | 塞尺检定规程 JJG62 | （0.02～0.10）mm | U=1.6μm |
| 楔形塞尺 | 长度 | 楔形塞尺校准规范 JJF1548 | 数显楔形塞尺：（0～40）mm | U=10μm |
| 楔形塞尺 | 长度 | 楔形塞尺校准规范 JJF1548 | 数显楔形塞尺：（0～40）mm | U=10μm |
| 楔形塞尺 | 长度 | 楔形塞尺校准规范 JJF1548 | 数显楔形塞尺：（0～40）mm | U=10μm |
| 光滑极限量规 | 长度 | 光滑极限量规检定规程 JJG343 | 塞规：φ（1～100）mm | U=3μm |
| 光滑极限量规 | 长度 | 光滑极限量规检定规程 JJG343 | 塞规：φ（1～100）mm | U=3μm |